鋰電池保護(hù)板測(cè)試儀的主要參數(shù)2021-07-10 08:09
1.保護(hù)板過(guò)充電檢測(cè)電壓測(cè)試
測(cè)試單節(jié)或多節(jié)保護(hù)板中，保護(hù)芯片對(duì)每節(jié)電池的過(guò)充電保護(hù)電壓
測(cè)試范圍為3.870V—4.650V
測(cè)試精度為<0.0025V
2．保護(hù)板過(guò)充電解除電壓測(cè)試
測(cè)試單節(jié)或多節(jié)保護(hù)板中，保護(hù)芯片對(duì)每節(jié)電池的過(guò)充電解除電壓
測(cè)試范圍為3.550V—4.650V
測(cè)試精度為<0.0025V
3．保護(hù)板過(guò)充電保護(hù)延遲時(shí)間測(cè)試
測(cè)試保護(hù)板的過(guò)充電保護(hù)延遲時(shí)間
測(cè)試范圍為<5000mS
測(cè)試精度為<1mS
4．保護(hù)板過(guò)放電檢測(cè)電壓測(cè)試
測(cè)試單節(jié)或多節(jié)保護(hù)板中，保護(hù)芯片對(duì)每節(jié)電池的過(guò)放電檢測(cè)電壓
測(cè)試范圍為1.600V—2.700V
測(cè)試精度為<0.0025V
5．保護(hù)板過(guò)放電解除電壓測(cè)試
測(cè)試單節(jié)或多節(jié)保護(hù)板中，保護(hù)芯片對(duì)每節(jié)電池的過(guò)放電解除電壓
測(cè)試范圍為1.600V—3.600V
測(cè)試精度為<0.0025V
6．保護(hù)板過(guò)放電保護(hù)延遲時(shí)間測(cè)試
測(cè)試保護(hù)板的過(guò)放電保護(hù)延遲時(shí)間
測(cè)試范圍為<5000mS
測(cè)試精度為<1mS
7．保護(hù)板靜態(tài)耗電測(cè)試
測(cè)試保護(hù)板的靜態(tài)耗電
測(cè)試范圍為<48μA
測(cè)試精度為<1μA
8.保護(hù)板內(nèi)阻測(cè)試
測(cè)試保護(hù)板的內(nèi)阻，包括（B+P+間電阻）+（B-P-間電阻）
測(cè)試范圍為<390mΩ+390mΩ
測(cè)試精度為<1mΩ
測(cè)試單節(jié)或多節(jié)保護(hù)板中，保護(hù)芯片對(duì)每節(jié)電池的過(guò)充電保護(hù)電壓
測(cè)試范圍為3.870V—4.650V
測(cè)試精度為<0.0025V
2．保護(hù)板過(guò)充電解除電壓測(cè)試
測(cè)試單節(jié)或多節(jié)保護(hù)板中，保護(hù)芯片對(duì)每節(jié)電池的過(guò)充電解除電壓
測(cè)試范圍為3.550V—4.650V
測(cè)試精度為<0.0025V
3．保護(hù)板過(guò)充電保護(hù)延遲時(shí)間測(cè)試
測(cè)試保護(hù)板的過(guò)充電保護(hù)延遲時(shí)間
測(cè)試范圍為<5000mS
測(cè)試精度為<1mS
4．保護(hù)板過(guò)放電檢測(cè)電壓測(cè)試
測(cè)試單節(jié)或多節(jié)保護(hù)板中，保護(hù)芯片對(duì)每節(jié)電池的過(guò)放電檢測(cè)電壓
測(cè)試范圍為1.600V—2.700V
測(cè)試精度為<0.0025V
5．保護(hù)板過(guò)放電解除電壓測(cè)試
測(cè)試單節(jié)或多節(jié)保護(hù)板中，保護(hù)芯片對(duì)每節(jié)電池的過(guò)放電解除電壓
測(cè)試范圍為1.600V—3.600V
測(cè)試精度為<0.0025V
6．保護(hù)板過(guò)放電保護(hù)延遲時(shí)間測(cè)試
測(cè)試保護(hù)板的過(guò)放電保護(hù)延遲時(shí)間
測(cè)試范圍為<5000mS
測(cè)試精度為<1mS
7．保護(hù)板靜態(tài)耗電測(cè)試
測(cè)試保護(hù)板的靜態(tài)耗電
測(cè)試范圍為<48μA
測(cè)試精度為<1μA
8.保護(hù)板內(nèi)阻測(cè)試
測(cè)試保護(hù)板的內(nèi)阻，包括（B+P+間電阻）+（B-P-間電阻）
測(cè)試范圍為<390mΩ+390mΩ
測(cè)試精度為<1mΩ
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